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广立微:公司扩展研发晶圆级可靠性测试设备 现已实现关键功能开发

来源:界面新闻 发布时间:2023-05-28 21:47:42 分享至:


(资料图片仅供参考)

广立微近期在接受调研时表示,面向晶圆级可靠性测试领域,公司扩展研发了晶圆级可靠性测试(WLR)设备,现已实现关键功能开发,扩充了公司电性测试设备产品线。

(文章来源:界面新闻)

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